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IGBT栅极驱动器：电力电子系统的核心组件
在电力电子行业，随着对功率电平和开关频率要求的不断提升，半导体器件的性能面临更高的挑战。金属氧化物半导体场效应晶体管（MOSFET）和绝缘栅双极晶体管（IGBT）凭借其高效性和可靠性，成为中高功率开关
2025/8/12 -
EDS 与 XPS 的系统性差异：从原理到应用
分析原理的再阐释 1. EDS 的能量色散机制 Energy Dispersive X-ray Spectroscopy（EDS）以高能电子束为激发源。电子束轰击样品后，原子内壳层电子被逐出，外层电子
2025/8/12 -
卤素及其在塑料和橡胶制品中的应用
什么是卤素？卤素是化学元素周期表中的第ⅦA族元素，包括氟（F）、氯（Cl）、溴（Br）、碘（I）和砹（At）。由于砹具有放射性且在产品中几乎不存在，因此在实际应用中，人们通常关注的是氟、氯、溴和碘。在
2025/8/12 -
一文带你了解电气安规测试
电气安规测试的重要性电气安规测试是产品制造过程中不可或缺的环节。尽管它会占用一定的生产时间，但其意义远超过时间成本。通过电气安规测试，可以有效降低产品因电气危害导致召回的风险。在当今竞争激烈的市场环境
2025/8/11 -
透射电子显微镜（TEM）在锂电池材料分析中的应用
在新能源技术迅猛发展的当下，锂电池材料研究的重要性日益凸显。深入钻研锂电池材料的原子与电子结构，为材料设计的优化与电池性能的提升筑牢根基。而透射电子显微镜（TEM）技术，其原子尺度的空间分辨本领，使科
2025/8/11 -
AEC-Q102之推拉力测试
在汽车智能化与电动化的浪潮中，光电半导体器件（如LED、激光雷达、光传感器等）的可靠性直接决定了车辆的安全性与性能。AEC-Q102作为汽车电子领域针对分立光电半导体的核心测试标准，其推拉力测试是评估
2025/8/11 -
元器件失效分析有哪些方法？
失效分析的定义与目标失效分析是对失效电子元器件进行诊断的过程。其核心目标是确定失效模式和失效机理。失效模式指的是我们观察到的失效现象和形式，例如开路、短路、参数漂移、功能失效等；而失效机理则是指导致失
2025/8/11 -
电子背散射衍射技术（EBSD）：原理、测试方法与应用领域
电子背散射衍射电子背散射衍射技术（EBSD），作为一种尖端的材料分析手段，融合了扫描电子显微镜（SEM）的精细成像与电子衍射的晶体学分析技术。电子束与样品的相互作用在EBSD测试中，首先利用SEM产生
2025/8/11 -
常见的气候环境试验有哪些？
气候环境试验是模拟自然气候条件对产品进行的测试，旨在评估产品在各种气候应力作用下的性能表现。这些气候应力包括温度、湿度、阳光、雨淋、沙尘、低气压、微生物等。通过气候环境试验，可以提前发现产品在实际使用
2025/8/8 -
AEC-Q102之静电放电测试（HBM）
静电放电（ESD）是电子元器件在运输、安装和使用过程中常见的一种现象，它可能导致器件损坏、性能降低或寿命缩短。因此，对电子元器件进行ESD试验至关重要，以确保其在实际应用中的可靠性和稳定性。AEC-Q
2025/8/8
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