电子背散射衍射样品制备工艺电子背散射衍射(EBSD)技术是现代材料微观结构分析的核心手段之一,通过与扫描电子显微镜(SEM)及能谱仪(EDS)的联用,能够实现对材料显微组织、晶体取向、相分布及织构等关
芯片开封的定义芯片开封,即Decap,是一种对完整封装的集成电路(IC)芯片进行局部处理的工艺。其目的是去除芯片的封装外壳,暴露出芯片内部结构,同时确保芯片功能不受损。芯片开封是芯片故障分析实验的重要
在汽车电子领域,AEC-Q102标准是衡量产品质量的关键指标,对企业而言,它不仅是对产品可靠性的认证,更是其市场竞争力的体现。通过这一认证,企业能够向市场展示其产品在极端环境下的稳定性和耐用性,从而在
超高分辨率形貌与结构信息1.微观形貌TEM能够直接观察样品的微观结构,包括颗粒的形状、大小、分布、表面特征、孔洞以及缺陷(如位错、层错、晶界、相界等)。这些信息对于理解材料的基本性质和性能至关重要。例
发光二极管(LED)作为现代照明和显示技术的核心元件,其可靠性直接关系到最终产品的性能与寿命。与所有半导体器件相似,LED在早期使用阶段可能出现失效现象,对这些失效案例进行科学分析,不仅能够定位具体问
什么是页岩?页岩是一种典型的沉积岩,主要由黏土矿物(如高岭石、蒙脱石、水云母等)以及少量碎屑矿物(如石英、长石、云母等)和自生矿物(如铁、铝、锰的氧化物与氢氧化物等)组成。其形成于静水环境中,如湖泊、
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湿气如何进入塑封体并影响材料性能在半导体器件的塑封结构中,主要使用的环氧塑封料和底填胶都是以环氧树脂为基体的复合材料。这些材料中加入了无机填充颗粒、固化剂、催化剂、偶联剂等成分,其中环氧树脂的质量占比
EBSD样品制备EBSD样品的制备过程对实验结果的准确性和可靠性有着极为重要的影响。目前,常用的EBSD样品制备方法包括机械抛光、电解抛光和聚焦离子束(FIB)等,但这些方法各有其局限性。检测请联系1
系统构成与工作原理FIB-SEM双束系统是一种集微区成像、加工、分析、操纵于一体的综合型分析与表征设备。其基本构成是将单束聚焦离子束系统与扫描电子显微镜(SEM)耦合而成。在常见的双束设备中,电子束垂

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