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AEC-Q102之什么是锡须生长？
AEC-Q102标准是由汽车电子委员会制定的一系列严格规范，目的是确保汽车使用的电子元件能够在严酷的工作环境中保持高度的可靠性和性能稳定性。在这些规范中，锡须测试占据了至关重要的地位，它专门用来评估电
2025/7/17 -
FIB-SEM的常用分析方法
聚焦离子束扫描电镜（FIB-SEM）是一种集多种先进技术于一体的微观分析仪器，其工作原理基于离子束与电子束的协同作用。扫描电子显微镜（SEM）工作机制 扫描电子显微镜（SEM）的核心成像逻辑并非传统透
2025/7/17 -
半导体封装的可靠性测试及标准
产品可靠性是指产品在规定的使用条件下和一定时间内，能够正常运行而不发生故障的能力。它是衡量产品质量的重要指标，对提高客户满意度和复购率具有重要影响。检测请联系18148990106。产品可靠性的重要性
2025/7/17 -
如何有效地开展EBSD失效分析
失效分析的重要性失效分析其核心任务是探究产品或构件在服役过程中出现的各种失效形式。这些失效形式涵盖了疲劳断裂、应力腐蚀开裂、环境应力开裂引发的脆性断裂等诸多类型。深入剖析失效机理，有助于工程师和材料科
2025/7/17 -
RoHS与ELV有什么差异？
RoHS的标准RoHS（Restriction of Hazardous Substances）是一项由欧盟立法制定的强制性标准，全称为《关于限制在电子电气设备中使用某些有害成分的指令》。该标准的核心
2025/7/16 -
IGBT驱动光耦：功率转换的控制枢纽
IGBT在电力电子中的关键作用在当今的电力电子技术中，绝缘栅双极晶体管（IGBT）已成为不可或缺的核心组件。这种器件以其出色的性能，在变频器、电动汽车、可再生能源系统等高功率应用中发挥着关键作用。IG
2025/7/16 -
什么是透射电子显微镜（TEM）？
透射电子显微镜透射电子显微镜简称TEM，是一种高分辨率的微观分析仪器，自1933年发明以来，已成为探索微观世界的强大工具。其工作原理是在高真空环境下，电子枪发射电子束，经过聚焦后形成细小的电子束，穿过
2025/7/16 -
气体腐蚀对电子产品的危害与应对
在当今快速发展的科技时代，电子产品已成为人们生活中不可或缺的一部分。从日常使用的手机、电脑到复杂的工业设备和医疗器械，它们的性能和可靠性直接影响着我们的生活和生产效率。然而，在复杂的使用环境中，电子产
2025/7/16 -
EBSD在材料科学中的优势分析
科学中，对晶体结构和晶粒取向的深入研究对于揭示材料性能具有决定性作用。传统技术，如X光衍射和中子衍射，虽然能够提供宏观层面的晶体结构和取向信息，但它们无法将这些信息与微观结构直接关联，也无法详细描述多
2025/7/16 -
为什么有的芯片是正电极更热，有的芯片是负电极更热？
案例分析（一）有的芯片是正电极更热，有的芯片是负电极更热！以下为两个厂家22mil*35mil尺寸大小芯片光热分布的对比。对于该尺寸大功率正装芯片，电流在芯片中横向扩展的路径较长，导致电流聚集效应更加
2025/7/15
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