移动互联网

什么是雷击浪涌测试?

2025/9/23 13:50:00



浪涌电流的定义

浪涌电流是指电路在开启瞬间吸收的最大电流,通常出现在输入波形的几个周期内。其值远高于电路的稳态电流,这种高电流可能会对设备造成损坏,甚至触发断路器。浪涌电流常见于所有包含磁芯的设备中,例如变压器、工业电压设备等。检测请联系18148990106。


浪涌的产生原因


1.电力系统开关瞬态

1)主要的电力系统切换骚扰,例如电容器组的切换,电容瞬间放电或者充电;

2)配电系统中较小的局部开关动作或者负载变化;

3)与开关器件有关的谐振现象;导致电压出现振荡波形;

4)各种的系统故障,例如设备组合对接地系统的短路和电弧故障。

2.雷电瞬态

1)直接雷,它击于外部(户外)电路,注入的大电流流过接地电阻或外部电路阻抗而产生电压;

2)间接雷(即云层之间或者云层中的雷击或击于附近物体的雷击产生的电磁场),他在建筑物内、外导体上产生感应电压和电流;

3)附近直接对地放电的雷电电流,当他耦合到设备组合接地系统的公共接地路径时产生感应电压;

4)雷电保护装置动作时,电压和电流可能迅速变化,并可能耦合到内部电路。


金鉴案例

导致LED死灯的原因有很多种,除了灯珠自身质量缺陷、外部环境之外,还有驱动电源缺陷。驱动电源缺陷很难分析,因为电源缺陷(尤其是开关瞬间或雷击导致的浪涌电流)造成LED死灯之后,LED电源往往没有明显异常。出现这类失效现象时,为失效买单的往往是LED灯珠生产厂家,有的时候真是“哑巴吃黄连,有苦说不出”,而罪魁祸首LED电源厂家确可以逍遥法外。


对差模雷击和共模雷击测试失效品分别进行物理开封后在SEM下观察,差模雷击测试失效品金道、外延层以及芯片桥接处烧毁;共模雷击测试失效品P电极、金道、外延层以及芯片桥接处均烧毁。

综上,雷击浪涌测试失效现象与委托单位送测失效品失效现象基本一致。


版权声明
本文仅代表作者观点,不代表艾瑞立场。本文系作者授权艾瑞专栏发表,未经许可,不得转载。

专家介绍

  • 合作伙伴

  • 官方微信
    官方微信

    新浪微博
    邮件订阅
    第一时间获取最新行业数据、研究成果、产业报告、活动峰会等信息。
     关于艾瑞| 业务体系| 加入艾瑞| 服务声明| 信息反馈| 联系我们| 合作伙伴| 友情链接

Copyright© 沪公网安备 31010402000581号沪ICP备15021772号-10

扫一扫,或长按识别二维码

关注艾瑞网官方微信公众号